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日本電子掃描電鏡用于觀察和測量各種樣品，包括電子元件和金屬材料。此顯微鏡使用簡單，只要放上樣品，就可以輕松地完成 3D 觀察、測量、報告自動生成等一系列操作。

JEM-2100 時間分辨電子顯微鏡及相關附件是利用一個或多個激光器進行pump-探針實驗而設計的用于研究樣品中的瞬態(tài)現象。 用戶可以直接用激光激發(fā)樣品，紫外激光產生光電子探針脈沖，在成像、衍射、光譜或光譜成像模式下對樣品進行探測。